Realizar análisis de la superficie de objetos pequeños (entre 2 cm y 100 nm) y obtener espectros de su composición química elemental, con el fin de utilizarlos en investigaciones geocientíficas.
Servicios de análisis de imagen y composición elemental con EDS.
Microscopio electrónico de barrido marca Zeiss, modelo EVO MA10
Detector de rayos X marca Bruker, modelo XFlash 30.
El Laboratorio de Microscopia electrónica de barrido se ubica en el Instituto de Geología ubicado en el Circuito de la Investigación Científica
Tiene estudios en Física de Materiales por la Facultad de Ciencias y es Química por la Universidad Nacional Autónoma de México
+52 (55) 56224240 ext 81847
+52 (55) 56224285 ext. 135
56 22 43 17
Doctora en Ciencias de Materiales e Ingeniería por la Universidad Autónoma del estado de Morelos y del Instituto de Física, Centro Cuernavaca de la UNAM
+52 (55) 56224240 ext 81847
+52 (55) 56-22-43-00 ext. 160
AVENIDA UNIVERSIDAD, No. 3000
UNAM CU, COYOACÁN, CIUDAD DE MÉXICO, C.P. 04510
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