Análisis químicos cuantitativos de elementos mayores y traza en roca y minerales, sedimentos, suelos y plantas, mediante la técnica WD-FRX.

Identificación y semicuantificación por difracción de rayos X, de fases minerales en muestras diversas.

En el LFRX se dispone de un espectrómetro secuencial de rayos X (Rigaku Primus II) equipado con tubo de rodio y ventana de berilio de 30 micras, utilizado en la determinación de elementos mayores (Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K y P) y elementos traza (Rb, Sr, Ba, Y, Zr, Nb, V, Cr, Co, Ni, Cu, Zn, Th y Pb) en muestras de rocas, minerales, sedimentos y suelos. Los errores estimados en las determinaciones son menores a 1% en elementos mayores y menores a 4% en elementos traza. En todos los casos las curvas de calibración han sido construidas con estándares emitidos por instituciones de reconocido prestigio internacional.

También se dispone de un difractómetro de polvos SIEMENS D5000, para identificación de minerales y análisis semicuantitativo de fases cristalinas mediante el software MATCH 2.0 de Crystal Impact.